This work of thesis has been mainly focused on two topics: the estimation of losses and dispersion of optical waveguides realized by Silicon-On-Insulator (SOI) technology and the complete characterization of ring resonator filters for Wavelength Division Multiplexing (WDM) applications in new generation passive optical networks (NG-PON2).

Caratterizzazione di componenti ottici integrati realizzati in tecnologia "Silicon-On-Insulator". Questo lavoro di tesi ha riguardato la caratterizzazione di componenti ottici passivi realizzati in tecnologia "Silicon-On-Insulator". La parte sperimentale si è incentrata sulla misura delle perdite e della dispersione in guide d'onda "strip" e sulla caratterizzazione lineare e non lineare di micro-risuonatori ad anello da impiegare come filtri in reti ottiche passive di nuova generazione (NG-PON2).

Characterization of Integrated Optical Components based on Silicon-On-Insulator technology

VITALI, VALERIO
2015/2016

Abstract

This work of thesis has been mainly focused on two topics: the estimation of losses and dispersion of optical waveguides realized by Silicon-On-Insulator (SOI) technology and the complete characterization of ring resonator filters for Wavelength Division Multiplexing (WDM) applications in new generation passive optical networks (NG-PON2).
2015
Characterization of Integrated Optical Components based on Silicon-On-Insulator technology
Caratterizzazione di componenti ottici integrati realizzati in tecnologia "Silicon-On-Insulator". Questo lavoro di tesi ha riguardato la caratterizzazione di componenti ottici passivi realizzati in tecnologia "Silicon-On-Insulator". La parte sperimentale si è incentrata sulla misura delle perdite e della dispersione in guide d'onda "strip" e sulla caratterizzazione lineare e non lineare di micro-risuonatori ad anello da impiegare come filtri in reti ottiche passive di nuova generazione (NG-PON2).
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14239/22306