Sfoglia per Relatore
Mostrati risultati da 1 a 12 di 12
A time variant, 80dB dynamic range, 4.5MHz, analog readout channel for X-ray imaging at FELs
2017/2018 SOHAL, KARAN
An automatic setup for gate current measurement in 28 nm NMOS transistors
2021/2022 KUMAR, DIVYANSHU
Analysis and design of a parallel counter in 110 nm CMOS technology
2020/2021 GIROLETTI, SIMONE
Caratterizzazione statica e di rumore di dispositivi FinFET da 14 nm
2013/2014 IMPERIALE, GIANLUCA
Characterization of 150 nm CMOS SPAD arrays for a dual layer position sensitive detector
2018/2019 TORILLA, GIANMARCO
CMOS SPAD arrays for a dual layer position sensitive detector
2019/2020 SAINI, SHUBHAM
DISCRIMINATORI A SOGLIA PER SISTEMI DI MISURA DELLA CARICA AD ELEVATA RISOLUZIONE SPAZIALE E TEMPORALE.
2011/2012 MASTROJANNI, GIOVANNI
Semi-automatic measurement setup for noise characterization of CMOS transistors
2021/2022 HAYKAL, MARIO
Setup automatico per la caratterizzazione di array di sensori SPAD
2022/2023 NEHIR, ENDER COŞAN
Sistema semi-automatico per misure di rumore in transistori MOSFET a canale N e P
2022/2023 AHMEDELMENOFY, OSAMA AMER HAMED
Time variant, low-noise front-end channel for fully depleted, monolithic sensors in X-ray Imaging applications
2018/2019 SINGH, GURJEET
TOTAL IONIZING DOSE MONITORING FOR ELECTRONICS IN THE LHC'S ENVIRONMENT.
2013/2014 BRUCOLI, MATTEO
Mostrati risultati da 1 a 12 di 12
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile